目录简介 1. 范围
2. 参考文件
3. 术语
4. 使用概述
5. 运用性
6. 取样
7. 检测试样
8. 校准
9. 显微照片的准备
10. 比较法
11. 面积法
12. 截点法
13. 直线截点法
14. 圆截点法
15. 统计分析
16. 非等轴晶试样的晶粒度
17. 含两相或多相及多组元试样的晶粒度
18. 报告
19. 准确度和偏差
20. 关键词
附录 (规范性信息)
附件（非强制性文件）
参考文献
全文页数 49